德国林赛斯热分析
首页 > 产品中心 > 热分析仪 > 德国林赛斯薄膜物性分析仪(导热、赛贝克、霍尔̷̷)
产品详情
德国林赛斯薄膜物性分析仪(导热、赛贝克、霍尔̷̷)
德国林赛斯薄膜物性分析仪(导热、赛贝克、霍尔̷̷)的图片
参考报价:
面议
品牌:
关注度:
577
样本:
暂无
型号:
产地:
德国
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 2
名 称:德国林赛斯热分析
认 证:工商信息已核实
访问量:31949
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介

物理特性薄膜表征系统高度集成且易于使用的测量平台。

薄膜的物理性质不同于大块材料,因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强

  • 增强表面散射的影响(a)

  • 附加边界散射(b)

  • 超薄层的量子约束c)

LINSEIS薄膜物性分析仪表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统,使用正在申请**的测量系统设计可提供高质量的结果。

组件

基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片,以及提供所需环境条件的测量室。根据应用,该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行,并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。

预制测量芯片

该芯片将用于热导率测量的3ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4Van-der-Pauw技术相结合。贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备,可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD(例如热蒸发,溅射,MBE),CVD(例如ALD),旋涂,滴铸或喷墨打印制备的样品

该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同(平面内)方向,并且具有很高的可比性。

基本测量单元

测量室,真空泵,带加热器的支架,电子颊侧装置,集成锁相放大器,3w方法分析软件,计算机和应用软件。可测以下物理参数:

λ-热传导系数 (稳态法/平面内方向)

ρ - 电阻率

• σ - 电导率

• S - 赛贝克系数

ε – 发射率

Cp - 比热容

磁测量单元

可根据需求选择集成式电磁铁,可测物理参数如下:

• AH - 霍尔常数

• μ –迁移率

• n -载流子浓度

薄膜材料性能有别于块体材料之处

- 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如:边界散射和量子限域效应

*价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请拨打电话咨询(021-50550642;010-62237791)。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言